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美國Taber 6160振蕩磨耗儀可用于材料表面耐磨損和抗刮擦性能的測試。 簡介 Taber 6160振蕩磨耗儀也叫做(沙粒振蕩儀)，如同ASTM F735標準中所描述，Taber沙粒振蕩儀用于測試材料表面的耐磨損和抗刮擦性能。它主要用于測試透明材料和涂覆于玻璃、鏡片上的涂料性能，另外它還可以用于評估有機涂料、塑料、金屬和其它材料的耐磨耗性。 測量原理 1、樣品固定于沙盤底部的固定夾具中，樣品表面露出高度不超過1mm。在沙盤中放入均一深度的標準磨耗介質(zhì)比如石英砂或者氧化鋁。 2、沙盤在特定驅(qū)動器驅(qū)動下作前后往復(fù)式運動，從而帶動整個沙盤中的磨耗介質(zhì)移動。通過磨耗介質(zhì)的這種隨機刮擦模式能夠模擬出產(chǎn)品在日常生活中的磨損。 3、Taber 6160振蕩磨耗儀還允許用戶使用液體研磨漿料進行磨損腐蝕測試。選購相關(guān)附件，用戶還可以對透鏡進行“拜爾 測試”。其目的主要是用于與參照的透鏡做比較。 4、Taber 6160振蕩磨耗儀的測試參數(shù)可以調(diào)整，用戶可以自行選擇 來回長度（0.25至6英寸）和速度（100-200個來回每分鐘）。 此外，儀器允許用戶可以使用不同種類的磨耗介質(zhì)包括石英砂、 氧化鋁、金剛砂和玻璃珠等進行測試。 符合標準 ASTM F735，ARCA AR-C STP 5.2.5(拜爾耐磨耗測試)或其他標準。 標準配置 - 主機1臺 - 帶方形樣本架的樣本盤 - 6英寸尺 - 試樣墊片（8套） - 氣泡液位計 - 樣本移除工具 - 1/8英寸和3/32英寸六角L形鍵 - 6/9二氧化硅研磨介質(zhì)（50磅） - 電源線套件 - 安裝硬件（四套） - 操作說明書 - 一次性托盤蓋 可選配置 訂購號 說明 134979 6/9二氧化硅研磨介質(zhì)（50磅容器） 133033 氧化鋁ZF-12研磨介質(zhì)（50磅容器） 133037 拜耳測試套件[包括拜耳測試盤；剛玉ZF-12研磨介質(zhì)；5對CR39 ISO透鏡] 133547 CR39拜耳試驗用ISO標準平面透鏡（25 pr.） 121257 試樣墊片-4“方形，1/16”有機玻璃（10個）

Evident儀景通 （奧林巴斯）高溫探頭/雙晶探頭D790 系列，適配主機 27MG / 45MG / 38DL Plus / 39DL Plus / 72DL Plus 超聲波測厚儀使用；探頭頻率：5.0MHz，測量范圍：1.00～508.00mm，端部直徑：11mm，溫度范圍：-20～500°C ，帶密封線。能夠準確測量各種材料(如金屬、塑料、陶瓷等)的厚度,無論是在平坦表面還是復(fù)雜曲面上都能實現(xiàn)穩(wěn)定可靠的測量。

奧林巴斯便攜式超聲波測厚儀27MG 可以對大多數(shù)材料進行測量，其中包括塑料、金屬、金屬復(fù)合材料、橡膠及內(nèi)部腐蝕的材料。

西班牙ALBEDO 干兆網(wǎng)絡(luò)多業(yè)務(wù)分析儀 Ether.Genius 是一款多功能、可靈活配置、可選配多達數(shù)十種軟硬件組件的多業(yè)務(wù)以太網(wǎng)測試儀，適合于現(xiàn)場測試和實驗室測試，小巧便攜。 可以測試高達 1 Gb/s 的千兆以太網(wǎng)和 IP 網(wǎng)絡(luò)。 Ether.Genius可選裝多種不同的組件，可支持Sync-E/PTP 協(xié)議，具有多個光和電氣接口用于GbE/PDH/T1/E1/E0/C37.94 和數(shù)據(jù)通信等測試應(yīng)用�？稍谒�有接口進行性能測試和質(zhì)量測試并且具有仿真PTP/SyncE的能力，同時具有很好的頻率/相位和 PDV 指標的能力。 另外，它還可選配基于GPS系統(tǒng)的銣鐘（Rubidium）用于獲得精準的時鐘。

西班牙ALBEDO公司成立于1983年，位于巴塞羅那，是西班牙*的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控技術(shù)研發(fā)企業(yè)。

荷蘭 Oxilyser 3 不銹鋼鈍化膜測試儀 ，用來測量不銹鋼合金的表面質(zhì)量，確保表面測量數(shù)據(jù)的精確性和可信度。合金表面的*小活性，也就是金屬原子的流動性會被直接測量，并顯示在儀器上。測量設(shè)備包括一根標準電極，這根電極包括黑色電線和一根含有紅色電線的紅色陽極夾鉗。在測試時，鈍 化值將會在 0-100之間。當鈍化值達到可接受狀態(tài)時，電子顯示屏?xí)�自動由紅變綠，可接受值是由調(diào)制開關(guān)上的合金名稱決定。

德國李斯特磁通計FLUX CHECK 250 是一款精心設(shè)計的的緊湊型磁通計，可作實現(xiàn)磁通量的手持式測量。用于確定磁體系統(tǒng)或單個磁體的磁通量φ(Phi)。 List-Magnetik Helmholtz扭矩線圈HM-1，可以非常精確地確定永磁體的磁通量，因為磁體的整個體積都可以測量，而不管其位置如何。借助于LIST的矩線圈HM-1，可以非常精確地確定永磁體的磁通量。

德國List-Magnetik 鐵素體含量儀FERRITE-CHECK140 是一款簡單易用的鐵素體含量檢測儀

德國List-Magnetik李斯特 FERRITE-CHECK 240 是一款易于使用的儀器，帶有彩色顯示屏和外部探頭，用于根據(jù)巴塞爾標準 DIN EN ISO 8249 使用磁感應(yīng)法測量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。

中科科儀場發(fā)射掃描電鏡，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、無機非金屬材料及器件、納米材料、生物樣品(如組織、細胞、微生物及生物大分子)等的檢測和分析。 　　場發(fā)射掃描電鏡是一種用于材料科學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，它主要用于觀察和分析材料的表面形貌和微區(qū)成分。場發(fā)射掃描電鏡具有高分辨率，能夠在低加速電壓下觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠�，這對于研究納米材料等方向有用。此外，場發(fā)射掃描電鏡還配備了X射線能譜儀，可以在觀察樣品表面微觀形貌的同時進行微區(qū)成分定性、定量、元素分布以及相分析，是研究納米材料等方向的有力工具。 　　在使用場發(fā)射掃描電鏡時，需要注意其運行環(huán)境條件的控制，包括溫度、濕度、震動、磁場強度等因素。同時，還需定期檢查和維護電子光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)等核心部件，以確保設(shè)備的穩(wěn)定運行和長壽命。此外，對于燈絲等易損件需及時更換并正確維護，以避免對實驗結(jié)果的影響。 　　場發(fā)射掃描電鏡的特點包括： 　　高分辨率：二次電子分辨率在1.0nm至2.0nm之間，這有助于觀察材料的細微結(jié)構(gòu)。 　　寬放大倍數(shù)范圍：從×20至×800,000，適應(yīng)不同尺度下的觀察需求。 　　冷陰極場發(fā)射電子源，提供穩(wěn)定的電子束流。 　　靈活的加速電壓范圍：從0.5kV至30kV，可根據(jù)樣品特性進行調(diào)整。 　　配備X射線能譜儀，進行微區(qū)成分分析。 　　此外，場發(fā)射掃描電鏡還具有在低真空或充入特定氣體條件下進行觀察的能力，這使得它能夠直接觀察含水、含油及不導(dǎo)電樣品，而無需進行特殊處理。通過向樣品室充入水蒸氣，可以在不破壞樣品的情況下進行觀察。此外，場發(fā)射掃描電鏡還可以對樣品進行加溫和降溫處理，實時觀測化學(xué)反應(yīng)過程，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、地質(zhì)、有機化學(xué)等多個領(lǐng)域的研究和分析。