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OLYMPUS奧林巴斯探傷儀SX系列 PA系列
詳細(xì)信息品牌：OLYMPUS 型號(hào)：SX系列 PA系列 加工定制：是 類型：超聲波 測(cè)量范圍：自選 分辨率：自選 尺寸： 267 mm × 208 mm 重量：3.4 kg 分辨率：自選 奧林巴斯相控陣探傷儀
在工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域,許多復(fù)合材料被應(yīng)用在器械生產(chǎn)制造中,各種材料通過(guò)焊縫等方式結(jié)合在一起。這些焊縫處時(shí)常需要被檢測(cè),以保證沒(méi)有裂縫和其他缺陷,從而保證器械正常使用。在進(jìn)行焊縫檢測(cè)以及裂縫探測(cè)時(shí),超聲相控陣探傷儀是一個(gè)優(yōu)秀的工具,可以幫助維護(hù)工業(yè)器械,以及提高工業(yè)生產(chǎn)效率。
Omniscan SX系列的SX PA型號(hào)超聲相控陣探傷儀就是一個(gè)不錯(cuò)的選擇,作為奧林巴斯旗下的探傷儀產(chǎn)品之一,SX PA擁有強(qiáng)大的檢測(cè)性能,可以與各種附件、探頭和掃查器進(jìn)行配套使用,為工業(yè)領(lǐng)域無(wú)損探傷帶來(lái)優(yōu)質(zhì)的解決方案。相控陣系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
傳統(tǒng)的超聲檢測(cè)系統(tǒng)都只使用單晶或者雙晶探頭,無(wú)法對(duì)復(fù)雜的幾何形狀部件進(jìn)行聚焦與探測(cè)。而相控陣檢測(cè)系統(tǒng)采用多晶片探頭,其多晶片配置可以進(jìn)行更加復(fù)雜的組件掃查,就算是結(jié)構(gòu)極其復(fù)雜的工業(yè)組件也可以被精準(zhǔn)探測(cè),并獲得準(zhǔn)確的成像。相控陣系統(tǒng)幾乎可以被應(yīng)用在任何需要使用超聲探傷儀的檢測(cè)之中,尤其在工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域,更適合用相控陣系統(tǒng)來(lái)檢測(cè)缺陷。
奧林巴斯探傷儀的優(yōu)勢(shì)
作為無(wú)損檢測(cè)方案提供商,奧林巴斯在百年探索之間獲得了許多行業(yè)領(lǐng)先的檢測(cè)技術(shù)、成像技術(shù),所以?shī)W林巴斯旗下的探傷儀在市場(chǎng)上來(lái)說(shuō)極具口碑優(yōu)勢(shì)與品牌優(yōu)勢(shì)。
而且,奧林巴斯的超聲相控陣探傷儀在探測(cè)物體近表面缺陷時(shí),具備出色的檢測(cè)能力,借助超聲波來(lái)對(duì)材料的空隙和隱藏裂紋進(jìn)行定位與定量,探測(cè)出焊接處的不連續(xù)性,性能十分優(yōu)秀。此外,奧林巴斯超聲相控陣探傷儀種類型號(hào)齊全,以O(shè)mniscan SX系列超聲相控陣探傷儀為例,它就擁有兩個(gè)不同的型號(hào):SX PA與SX UT,都擁有極佳的便攜性與可視性,在工業(yè)領(lǐng)域適配度很高。
超聲相控陣探傷儀SX PA的優(yōu)勢(shì)
經(jīng)過(guò)對(duì)相控陣技術(shù)20多年的深度探索,奧林巴斯推出的Omniscan SX系列SX PA超聲相控陣探傷儀可以說(shuō)是體現(xiàn)了奧林巴斯技術(shù)精髓的一臺(tái)探傷儀。
SX PA超聲相控陣探傷儀的重量與體積都比上一代產(chǎn)品優(yōu)化了不少,不僅重量減輕了33%,體積也減小了50%,用于前所未有的便攜性能;而且奧林巴斯還為SX PA超聲相控陣探傷儀的觸摸屏配置了全屏模式,使可視性大大提高的同時(shí),還將菜單功能實(shí)現(xiàn)觸摸式操作,非常方便使用。
在檢測(cè)性能上,SX PA超聲相控陣探傷儀還擁有優(yōu)質(zhì)的集成功能,A掃描與S掃描顯示都擁有快速刷新率,使其成為一款高效的檢測(cè)工具。
奧林巴斯以客戶需求為向?qū)?打造出了SX PA超聲相控陣探傷儀是工業(yè)檢測(cè)中非常實(shí)用的工具之一。在公司部分業(yè)務(wù)交由子公司Evident接手之后,其產(chǎn)品的靈活性也越來(lái)越高,為用戶帶來(lái)更高性價(jià)比的檢測(cè)解決方案。
奧林巴斯探傷儀 OmniScan SX 參數(shù)外殼
外型尺寸
（W x H x D） 267 mm × 208 mm × 94 mm
(10.5 in. × 8.2 in. × 3.7 in.)
重量
3.4 kg（7.5 lb），含電池
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
存儲(chǔ)裝置
SDHC卡，或大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)USB存儲(chǔ)設(shè)備
數(shù)據(jù)文件容量
300 MB
I/O端口
USB端口
2個(gè)符合USB 2.0技術(shù)規(guī)格的USB端口
音頻報(bào)警
有
視頻輸出
視頻輸出（SVGA）
I/O線
編碼器
雙軸編碼器線（正交、向上、向下或時(shí)鐘/方向）
數(shù)字輸入
4個(gè)數(shù)字TTL輸入，5 V
數(shù)字輸出
3個(gè)數(shù)字TTL輸出，5 V；每個(gè)輸出電流為15 mA。
采集開關(guān)
有，通過(guò)對(duì)一個(gè)數(shù)字輸入進(jìn)行配置的方式實(shí)現(xiàn)
電源輸出線
5 V，500 mA電源輸出線（帶短路保護(hù)）
步速輸入
5 V TTL步速輸入
顯示
顯示屏尺寸
21.3 cm（8.4 in.） （對(duì)角線）
分辨率
800像素 x 600像素
亮度
600 cd/m2
觀察角度
水平： –80° ～ 80° 垂直： –60° ～ 80°
顏色數(shù)量
1千6百萬(wàn)
類型
薄膜晶體管液晶顯示屏（TFT LCD）
電源
電池類型
智能鋰離子電池
電池?cái)?shù)量
1節(jié)
電池供電時(shí)間
正常操作條件下，至少6小時(shí)
環(huán)境技術(shù)規(guī)格
工作溫度范圍
-10 °c ～ 45 °C（14 ºF ～ 113 ºF）
存放溫度范圍
–20 °C ～ 60 °C（–4 ºF ～ 140 ºF），含電池
–20 °C ～ 70 °C（–4 ºF ～ 158 ºF），不含電池
相對(duì)濕度
45 °C無(wú)冷凝的條件下，相對(duì)濕度為70 %。
侵入保護(hù)評(píng)級(jí)
設(shè)計(jì)符合IP66評(píng)級(jí)
防撞擊評(píng)級(jí)
通過(guò)MIL-STD-810G 516.6的墜落測(cè)試
超聲技術(shù)規(guī)格（適用于OMNISX-1664PR）
接口
1個(gè)相控陣接口： Olympus PA接口
2個(gè)UT接口： LEMO 00
聚焦法則數(shù)量
256個(gè)
探頭識(shí)別
自動(dòng)探頭識(shí)別
脈沖發(fā)生器/接收器
孔徑
16個(gè)晶片
晶片數(shù)量
64個(gè)晶片
脈沖發(fā)生器
PA通道
UT通道
電壓
40 V、80 V、115 V
95 V、175 V、340 V
脈沖寬度
30 ns ～ 500 ns范圍內(nèi)可調(diào)， 分辨率為2.5 ns。
30 ns ～ 1000 ns范圍內(nèi)可調(diào)， 分辨率為2.5 ns。
脈沖形狀
負(fù)方波
負(fù)方波
輸出阻抗
35 Ω（脈沖回波模式）
30 Ω（一發(fā)一收模式）
< 30 Ω
接收器
PA通道
UT通道
增益
0 dB～80 dB，輸入信號(hào)為550 mVp-p（滿屏高）
0 dB～120 dB，輸入信號(hào)為34.5 Vp-p（滿屏高）
輸入阻抗
60 Ω（脈沖回波模式）
150 Ω（一發(fā)一收模式）
60 Ω（脈沖回波模式）
50 Ω（脈沖發(fā)送接收模式）
系統(tǒng)帶寬
0.6 MHz～18 MHz（–3 dB）
0.25 MHz～28 MHz（–3 dB）
聲束形成
掃查類型
扇形或線性
組數(shù)量
1個(gè)
數(shù)據(jù)采集
PA通道
UT通道
數(shù)字化頻率
100 MHz
100 MHz
脈沖速率
高達(dá)6 kHz（C掃描）
數(shù)據(jù)處理
PA通道
UT通道
數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)
8192個(gè)
實(shí)時(shí)平均
PA： 2、4、8、16
UT： 2、4、8、16、32、64
檢波
射頻、全波、正半波和負(fù)半波
濾波
3個(gè)低通、3個(gè)帶通、5個(gè)高通濾波器
3個(gè)低通、6個(gè)帶通、3個(gè)高通濾波器（TOFD配置下為8個(gè)低通濾波器）
視頻濾波
平滑（根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié)）
數(shù)據(jù)顯示
A掃描刷新率
A掃描： 60 Hz； S掃描： 60 Hz
數(shù)據(jù)同步
根據(jù)內(nèi)部時(shí)鐘
1 Hz～6 kHz
根據(jù)編碼器
雙軸： 1步～65536步
可編程的時(shí)間校正增益（TCG）
點(diǎn)數(shù)
16個(gè)： 每個(gè)聚焦法則有一條TCG （時(shí)間校正增益）曲線
斜率
40 dB/10 ns
報(bào)警
報(bào)警數(shù)量
3個(gè)
條件
閘門的任意邏輯組合
奧林巴斯探傷儀 OmniScan SX 兩款儀器 一種理念
OmniScan超聲相控陣探傷儀產(chǎn)品系列中的這兩款采集單元具有相同的界面和操作性能，以及多種功能，從而使Olympus的
OmniScan系列超聲相控陣探傷儀成為市場(chǎng)上受用戶信賴的便攜式相控陣儀器。
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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