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貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+
詳細信息| 詢價留言品牌：貝克休斯Waygat 型號：+ 加工定制：否 測量范圍：0.152 - 508 mm 測量誤差：0.5% 測量分辨率：0.001mm 數(shù)據(jù)存儲：32 GB 工作頻率：1 - 25 MHz 外形尺寸：175 × 111 × 50 mm 貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+
Krautkrämer CL Go+ 以易于使用、緊湊和堅固的外包裝提 供全方位的功能。
- 卓越的精度、穩(wěn)定性和重復(fù)性
- 人體工學(xué)設(shè)計：輕巧、亮度高且顯示屏大
- 直觀導(dǎo)航，輕松進行檢測
- 3合1設(shè)備：可輕松升級為缺陷探傷儀、腐蝕檢測儀或精密測厚儀
微米級精度且堅固耐用Krautkrämer CL Go+ 擁有 0.001 毫米（0.0001 英寸）的高分辨率，可輕松應(yīng)對各種常見應(yīng)用。CL Go+精密測厚儀是一款多功能檢測設(shè)備，體積小巧但堅固耐用。
憑借其直觀的菜單和易于操作的按鍵控制，用戶可以專注于充分利用其各種功能。CL Go+還擁有強大的數(shù)據(jù)管理功能，方便用戶存儲和分析檢測數(shù)據(jù)。
每次測量充滿信心
在質(zhì)量控制中，每次測量的準確性都非常重要。CL Go+在每次測量中提供了卓越的精確度、穩(wěn)定性和重復(fù)性
全新升級的用戶體驗
Krautkrämer CL Go+ 的設(shè)計以用戶為中心，配備明亮的大型彩色顯示屏，以獲得*大的可讀性。其小型且便攜的設(shè)計可實現(xiàn)單手操作，使其成為適合長時間檢測工作的人體工
程學(xué)解決方案。這種用戶友好的設(shè)計也延伸到了軟件界面。
通過五向按鍵和快速功能鍵的直觀導(dǎo)航可以輕松地瀏覽各種模式和功能。它還支持多種 Krautkrämer 精密探頭，提供了在各種檢測場景中的多樣性。
賦能更清晰檢測CL Go+能夠記錄大量數(shù)據(jù)，并以多種方式進行組織。它可以快速、輕松地將厚度數(shù)值存儲為文件形式。該功能完全可由用戶編程，每個文件可附帶存儲多達100,000個測量值。
該設(shè)備可以同時在SD卡上存儲多個文件，可提供高達16 GB的可用空間。
彌補知識差距CL Go+通過其雙模式功能彌補了知識的差距，其中包括“新手模式”和“專家模式”。這確保了在各種技能水平上的有效使用，使其成為每個團隊的多功能工具。
新手模式將測量過程簡化為三個步驟-選擇探頭、校準，然后即可進行測量。這使得即使是新手用戶也能輕松進行準確
測量。
專家模式提供了強大且可定制的設(shè)置，以滿足苛刻的應(yīng)用需求。這使得經(jīng)驗豐富的人員能夠充分利用CL Go+的功能，并根據(jù)自己的特定需求進行調(diào)整。- 5英寸清晰明亮的顯示屏，在室內(nèi)和室外都具有出色
的可見性 - 大尺寸的顯示減少眼部疲勞
- 出色的屏占比
- 輕巧便攜，單手操作
- 設(shè)計靈活，適用于左手或右手操作
- 集成的零點試塊，便于快速校準。
- 防滑支架
- 堅固耐用，適用于各種具有挑戰(zhàn)性的環(huán)境
- 符合IP67標準，經(jīng)過MIL 510測試
該設(shè)備采用先進的數(shù)字信號處理技術(shù)和自動增益控制，以在各種條件下提供穩(wěn)定的讀數(shù)。高分辨率的A掃描和閘門控制功能能夠優(yōu)化測量結(jié)果，確保準確性。主要特點包括：
- 采用有限脈沖響應(yīng)上采樣和插值零交叉測量技術(shù)，提高測量穩(wěn)定性和可靠性。
- 自動增益控制，提高重復(fù)性。
- 多種校準和零點校準模式，確保一致的準確性。
- 多種測量模式，包括厚度、A掃描、B掃描、*小/*大值、差值、質(zhì)量和聲速。
CL Go+聲速選項可用于確定已知厚度材料的聲速。用戶可 以輸入材料厚度，將探頭放置在零件上，CL Go+將顯示材料 的聲速。每個值都可以存儲在數(shù)據(jù)記錄器中，并可以下載到 個人電腦上。
適應(yīng)您的需求作為一款用戶友好的高精度測厚解決方案，CL GO+ 特別適用于汽車、航空和航天工業(yè)中的零部件測量。它能有效地測量鋁、鋼、銅和青銅等材料制成的鑄件和沖壓金屬零
部件。此外，該儀器還適用于加工件、管材、化學(xué)切割零部件、金屬帶材、金屬板材、塑料和復(fù)合材料，甚至玻璃材料的測量。3合1平臺
CL Go+是Krautkrämer檢測設(shè)備系列的一部分，該系列還包括用于腐蝕厚度檢測的DMS Go+和用于傳統(tǒng)缺陷檢測的USM Go+。
作為CL Go+的客戶，您可以靈活升級您的設(shè)備，并將其用作腐蝕厚度測量儀、缺陷檢測儀或兩者兼而有之，有效地將其轉(zhuǎn)變?yōu)橐粋�多功能的3合1平臺。除了作為您檢測需求的便捷解決方案外，選擇這些選項還可以享受更低的成本。
同樣，USM Go+和DMS Go+的用戶也可以更經(jīng)濟地為其現(xiàn)有設(shè)備添加CL Go+，而不是購買單獨的精密厚度測量儀。
貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+技術(shù)規(guī)格
顯示屏
有效尺寸（寬×高） 108.0 × 64.8毫米，對角線5英寸 分辨率（寬×高） 800 × 480像素 對比度 ≥300 亮度 ≥200 cd/m² 范圍（顯示寬度） 正常模式下，在鋼中*大可達14米（551英寸），具體取決于探頭、材料和表面條件。 顯示延遲 0 … 3,500微秒 探頭延遲 0 … 1,000微秒 聲速 250 … 16,000 米/秒 讀數(shù)分辨率 0.001、0.01或0.1毫米（0.0001、0.001或0.01英寸），可在整個測量范圍內(nèi)選擇 顯示模式 測厚、聲速、質(zhì)量、A掃描、B掃描、*小/*大值、差值、數(shù)據(jù)記錄 連接器
探頭連接器 2× LEMO-00，機械反極性保護 USB接口 Micro USB連接器 服務(wù)接口 1× Mini-RS232C，僅用于服務(wù)目的 脈沖發(fā)生器
脈沖模式 方波脈沖 脈沖電壓 自動匹配到探頭（120伏或250伏） 脈沖上升/下降時間 *大10納秒 脈沖寬度 自動匹配到探頭 接收器
數(shù)字增益 110dB的動態(tài)范圍，自動增益控制，用戶可手動設(shè)置高、低和自動增益限制 存儲
存儲卡槽
標準SD卡的SD卡槽
容量
32GB，SD卡
數(shù)據(jù)集
每個文件可存儲100,000個測量值。可以將多個文件同時保存在SD卡上。
環(huán)境
電池
工作時間：滿電的情況下可達6小時 充電方式（標準）：內(nèi)部充電器/電源適配器 充電方式（可選）：外部充電器 充電狀態(tài)：比例充電電量指示器
充電器/電源適配器
通用電源適配器100 … 240伏交流，50/60赫茲，符合CCC、CE、UL、CSA和PSE要求
尺寸（寬×高×深）
175 × 111 × 50毫米
重量：
850克（含電池）
防護
潮熱和濕度（存儲）
10個周期：10小時，+60 … +30攝氏度，10小時，+30 … +60攝氏度，2小時內(nèi)過渡（507.4）
溫度沖擊（存儲）
3個周期：4小時，-20 … +60攝氏度，4小時，+60攝氏度，5分鐘內(nèi)過渡（503.4，程序II）
振動
常規(guī)曝露：每個軸向1小時，514.5-5 程序I，附錄C，圖6
沖擊
每個軸向6個周期，15g，11毫秒，半正弦波（516.5 程序I）
潮熱和濕度（存儲）
10個周期：10小時，+60攝氏度到+30攝氏度，10小時，+30攝氏度到+60攝氏度，過渡時間不超過2小時（507.4）
運輸中松散貨物（在貨運容器中）
514.5 程序II
運輸中的跌落（包裝好的）
26次跌落，516.5 程序IV
外殼
根據(jù)IEC 529標準的IP67等級
工作溫度范圍
0 … 55攝氏度
儲存溫度范圍
-20 … +60攝氏度，包括電池在內(nèi)
符合標準
EMC/EMI: EN 55011: EN 61000-6-2:2001
超聲波: ASTM E1324，E317，ANSI/NCSL Z 540-1-1994，
MIL STD 45662A，MIL STD 2154
貝克休斯Waygat超聲波測厚儀CL Go+探頭和附件
*除非另有說明，否則以上數(shù)據(jù)適用于低碳鋼材型號 訂貨號 類型 名義頻率 測量范圍* 探頭線 延遲塊 CA 211A 113-544-000 標準接觸式 5 MHz 1.52-508 mm (0.060-20.0”) 022-505-604 NA Alpha 2 DFR 113-527-660 標準延遲塊 15 MHz 0.18-25.4 mm (0.007-1.0”) 022-505-604 118-440-050 118-440-051 Alpha 2F 113-526-000 指尖接觸式 10 MHz 1.52-254 mm (0.060-10.0”) 022-505-604 NA CLF 4 113-527-665 標準延遲塊 15 MHz 0.18-25.4 mm (0.007-1.0”) 022-505-604 118-440-050 118-440-051 CLF 5 113-526-005 指尖接觸式 10 MHz 1.52-254 mm (0.060-10.0”) 022-505-604 NA 
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留 言
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