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中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡KYKY-EM8000
詳細(xì)信息品牌:中科科儀 型號(hào):KYKY-EM8000 加工定制:是 類型:電子 目鏡放大倍數(shù): 8-1600000倍 物鏡放大倍數(shù): 8-1600000倍 儀器放大倍數(shù): 8-1600000倍 重量:30000 g 適用范圍: 8-1600000倍 裝箱數(shù):1套 重量:30000 g 適用范圍: 8-1600000倍 中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡KYKY-EM8000
適用于:電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動(dòng)植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質(zhì)間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。
優(yōu)點(diǎn)
1)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,亮度高、單色性好、電子束斑小、壽命長(zhǎng)
2)低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率
3)束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長(zhǎng)時(shí)間的各種精準(zhǔn)分析,如CL、EDS、EBSD
4)低加速電壓,可直接觀測(cè)電子束敏感樣品,不需噴金
5)操作簡(jiǎn)便,僅用鼠標(biāo)即可完成所有的電鏡操作
特點(diǎn)
高性能肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,亮度高、單色性好、束斑小,壽命更長(zhǎng)
低加速電壓下,保持較好的亮度、分辨率
低加速電壓不導(dǎo)電樣品可以直接觀測(cè),無需噴金
束流穩(wěn)定度高,滿足長(zhǎng)時(shí)間工作需求
滿足用戶定制化需求,適合多模塊嵌入,多系統(tǒng)互聯(lián)
易操作,易維護(hù),性價(jià)比高,性能遠(yuǎn)高于普通鎢燈絲類電鏡
中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡KYKY-EM8000技術(shù)規(guī)格
型號(hào)
KYKY-EM8000F
分辨率
1.5 nm(15KV); 5nm(3KV)
放大倍數(shù)
15x~500,000x
加速電壓
0 ~ 30KV
電子槍
Schottky肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
自動(dòng)調(diào)整功能
聚焦、亮度/對(duì)比度、消像散、電子束對(duì)中等
真空系統(tǒng)
高真空二次電子探測(cè)器(具備保護(hù)探測(cè)器探頭不被碰撞的功能)
行程
X
0 ~ 80mm
Y
0 ~ 60mm
Z
0 ~ 50mm
R
360°
T
-5° ~ 90°
探測(cè)器
SE探測(cè)器,BSE探測(cè)器(可選),X-ray能譜儀(可選),EBSD(可選)
中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡KYKY-EM8000參數(shù)
分辨率: 1.5nm@15KV(SE); 3nm@30KV(BSE)
放大倍率: 8-1600000倍
電子槍: 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
加速電壓: 0.02-30kV
樣品臺(tái): 手動(dòng)樣品臺(tái)(標(biāo)配)、五軸全自動(dòng)預(yù)對(duì)中樣品臺(tái)(選配)
探測(cè)器: 高真空二次電子探測(cè)器(具備防碰撞功能)
透鏡系統(tǒng): 多級(jí)高性能錐形透鏡系統(tǒng)
尺寸電子光學(xué)鏡筒部分: 800×800×1480(mm)
電器柜控制部分: 1340×850×740(mm)
優(yōu)勢(shì)
1. Schottky肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍亮度高、單色性好、電子束斑小,壽命長(zhǎng)
2. 低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率
3. 束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長(zhǎng)時(shí)間的各種精確分析,如BSE、EDS、EBSD
4. 低加速電壓不導(dǎo)電樣品可以直接觀測(cè),無需噴金
5. 多種自動(dòng)功能,操作十分簡(jiǎn)便,僅用鼠標(biāo)即可完成所有的電鏡操作
應(yīng)用領(lǐng)域
電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動(dòng)植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料。
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。
目前,掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
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- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
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- 地下管線探測(cè)
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- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
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- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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