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Olympus奧林巴斯渦流陣列探傷儀OmniScan MX ECA/ECT
詳細(xì)信息品牌：Olympus 型號：OmniScan MX ECA/ECT 加工定制：是 適用范圍：10Hz -20MHz 測試頻率：10Hz -20MHz 靈敏度：0.1° 相位范圍：0.0-359.9°，0.1° 外形尺寸：237 x 146 x 53 mm 靈敏度：0.1° 
Olympus奧林巴斯渦流陣列探傷儀OmniScan MX ECA/ECT
提高檢測性能、降低復(fù)雜程度
MXE 3.0軟件
渦流陣列（ECA）檢測技術(shù)除了增加了晶片之間的電子轉(zhuǎn)換能力外，實(shí)際上與渦流檢測（ECT）技術(shù)并無區(qū)別。渦流陣列檢測的操作與校準(zhǔn)非常容易。OmniScan MXE 3.0 ECA軟件經(jīng)過重新設(shè)計(jì)，不僅方便了從傳統(tǒng)ECT儀器（如：奧林巴斯的Nortec 500）到ECA儀器的過渡，而且可以更便捷的方式提供ECA性能。實(shí)時(shí)阻抗平面圖
ECA校準(zhǔn)與傳統(tǒng)ECT校準(zhǔn)的方式幾乎相同。校準(zhǔn)過程中繼續(xù)應(yīng)用提離、增益和平衡調(diào)整原理，因此校準(zhǔn)不會(huì)比通常情況更復(fù)雜、更耗時(shí)。
使用ECA探頭時(shí)，可以實(shí)時(shí)生成提離信號，這點(diǎn)與使用傳統(tǒng)ECT探頭一樣。
可以使用OmniScan的飛梭旋鈕，實(shí)時(shí)調(diào)整相位角度。還可以同樣的方式調(diào)整增益、垂直增益、平衡點(diǎn)（H/V）位置。
替代傳統(tǒng)NDT（無損檢測）方法
去除漆層已經(jīng)過時(shí)
渦流陣列具有透過導(dǎo)電材料上的薄涂層進(jìn)行檢測的獨(dú)特性能。與滲透、磁粉或磁光成像（MOI）等現(xiàn)有檢測方式相比，這個(gè)性能表現(xiàn)出巨大的優(yōu)勢，因?yàn)橥耆∪チ藱z測前去除漆層或鍍層，檢測后再重新涂上漆層或鍍層的步驟。隨著時(shí)間的推移，這種檢測方式可以為用戶節(jié)省大量的成本，而且*重要的是檢測過程中還不使用化學(xué)制劑。
主要優(yōu)勢：
- 無需去除漆層。
- 成像和歸檔。
- 一步檢測，高速掃查，結(jié)果即時(shí)。
- 節(jié)省了大量的時(shí)間（一般可節(jié)省10倍或更多的時(shí)間）。
- 大大縮短了周轉(zhuǎn)時(shí)間。
- 具有缺陷深度評估能力。
- 靈敏度可調(diào)，可進(jìn)行后處理分析。
- 環(huán)保方法（不使用化學(xué)制劑）。
各種熟悉的調(diào)色板選擇，提供更多的可能性
MXE 3.0 ECA軟件提供一系列受專利保護(hù)的、借助彩色調(diào)色板表現(xiàn)數(shù)據(jù)的圖像形式，這種圖像沿用了傳統(tǒng)NDT方式表現(xiàn)數(shù)據(jù)的外觀，而且便于直觀地顯示ECA信號。
滲透檢測（熒光）
磁粉檢測（紅色粉末）
磁粉檢測（熒光）
分析、報(bào)告和歸檔
檢測完成后，確認(rèn)或重新檢測即使在現(xiàn)場檢測完成之后，OmniScan MX ECA仍然可以繼續(xù)發(fā)揮其數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、分析和制作報(bào)告的價(jià)值。使用OmniScan MX ECA，用戶可以查看單個(gè)缺陷指示，并根據(jù)需要進(jìn)行修正。MXE 3.0 ECA軟件采用了全新設(shè)計(jì)、直觀的數(shù)據(jù)光標(biāo)，可以直接從儀器進(jìn)行操作（在檢測現(xiàn)場），也可以通過USB端口連接鼠標(biāo)進(jìn)行操作（在辦公室）。
MXE 3.0軟件的選擇光標(biāo)非常直觀，可以快速選擇任何缺陷指示。
可以輕松地對記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正。上面的示例表明對增益（對比度）進(jìn)行的調(diào)整。
即刻報(bào)告，輕松歸檔 OmniScan MX內(nèi)置有一鍵式報(bào)告制作功能。高級用戶還可以配置和自行定義報(bào)告。不過，廠家默認(rèn)的報(bào)告格式已經(jīng)包含了屏幕截圖和精心選擇、預(yù)先導(dǎo)入的數(shù)據(jù)欄區(qū)，目的是避免用戶自行定制報(bào)告的麻煩。
檢測數(shù)據(jù)文件的歸檔也非常容易；無論在采集還是分析過程中，只需按一下鍵，即可將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在儀器的存儲(chǔ)卡中。
借助鼠標(biāo)輸入，用戶可以快速有效地進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。借助CompactFlash卡的讀卡器，用戶可以將文件歸檔到PC機(jī)中。
編碼掃查，使得數(shù)據(jù)判讀更方便
優(yōu)化后的校準(zhǔn)過程只有3個(gè)步驟OmniScan MX ECA不僅可在常規(guī)ECT阻抗平面視圖中顯示ECA信號，還可提供多種其他視圖和布局，用戶可以從中感受到編碼ECA技術(shù)真正強(qiáng)大的性能。這些顯示可作為校準(zhǔn)流程的一部分，可使渦流檢測過程清晰可見，甚至可基于用戶定義的合格標(biāo)準(zhǔn)做出通過或不通過的判斷。
得益于其直觀的界面設(shè)計(jì)，OmniScan MX ECA可以快速方便的配置和操作。配置過程只有簡單的3個(gè)步驟。
1.使用實(shí)時(shí)阻抗平面圖，實(shí)時(shí)調(diào)整常用的ECT控制。
2.激活編碼器和C掃描視圖。
3.微調(diào)設(shè)置，并為檢測做好準(zhǔn)備。
在全屏C掃描顯示中使用增益調(diào)節(jié)對比度。
持續(xù)編碼器模式 時(shí)基檢測的優(yōu)勢表現(xiàn)在無需對儀器進(jìn)行過多的干預(yù)，就可以提供幾乎無限的掃查性能，而編碼掃查（C掃描圖像）的優(yōu)點(diǎn)在于可以生成表明缺陷的位置、形狀和維度的頗具價(jià)值的彩色編碼圖像和信息。
MXE 3.0 ECA軟件推出了一種新的持續(xù)編碼器模式，可生成編碼器經(jīng)過校正的圖像，同時(shí)還保留了時(shí)基檢測的用戶友好性。使用這種模式，可以獲得很高的檢測效率，而且用戶可以自由決定是否記錄缺陷指示。
強(qiáng)大的彩色成像功能
使用彩色編碼C掃描評估缺陷的深度在大多數(shù)表面或近表面的應(yīng)用中，使用渦流陣列技術(shù)與使用常規(guī)渦流技術(shù)一樣，缺陷的嚴(yán)重程度與返回的渦流信號波幅密切相關(guān)。使用基于波幅的彩色編碼，并將每個(gè)通道的返回信號繪制成帶有編碼位置信息的圖像，就會(huì)使得到的C掃描顯示非常清晰直觀。這些掃描圖像可保存到可插拔CF卡中，也可在OmniScan MX儀器中被制作成報(bào)告。
校準(zhǔn)渦流陣列（ECA）的靈敏度和對比度時(shí)，必須要使用帶有深度已知的缺陷的參考標(biāo)準(zhǔn)試塊。
校準(zhǔn)后的ECA掃描圖像使用不同的顏色表現(xiàn)每個(gè)缺陷深度的范圍。
圖中顯示實(shí)際飛機(jī)蒙皮的腐蝕缺陷指示。不同顏色表明缺陷的不同深度。
基于閾限值為缺陷做出合格或次品的判定
使用OmniScan MX ECA時(shí)，用戶可以基于C掃描彩色視圖，對缺陷指示做出合格或次品的判定。MXE 3.0 ECA軟件包含多種已經(jīng)廠家測試的彩色調(diào)色板，可以優(yōu)化ECA應(yīng)用中的信號顯示。
此外，C掃描報(bào)警功能簡化了判廢信號的閘門設(shè)置情況，因?yàn)樵谧杩蛊矫鎴D信號進(jìn)入報(bào)警區(qū)域時(shí)，它可使C掃描顏色即刻得到改變。
MXE 3.0 ECA軟件預(yù)先裝載了多種適用于不同應(yīng)用的彩色調(diào)色板
（專利權(quán)受到保護(hù)）。每當(dāng)信號處于判廢區(qū)域時(shí)，報(bào)警功能就會(huì)使C掃描改變顏色。
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